Contesta Oy tarjoaa uutena palvelumuotona asiakkailleen elektroni-mikroskoopilla tehtäviä analyysejä mitä erilaisimmista rakennus-materiaaleista. Menetelmä antaa materiaaleista nopeasti tietoa mm. vaurion syntytavan ymmärtämiseksi.
Elektronimikroskooppikuvia voidaan ottaa jopa 1/1000 mm:n kokoisista detaljeista. Mikroskooppiin liitetyllä EDS-laitteella analysoidaan näytteen alkuainekoostumusta. Laitteilla voidaan tehdä lisäksi mm. alkuainekarttoja.
Kuva-analyysissä materiaaleista lasketaan esim. rakeiden ja huokosten kokojakaumia tai kuidun pituuden suhdetta leveyteen. Kuvat otetaan elektroni- tai valomikroskoopilla. Materiaalit voivat olla esimerkiksi kiviainesrakeita tai puuhiukkasia. Elektronimikroskopiatutkimus paljastaa mm:
 Kiteytymien koostumuksen (pinnan saostumat, huokosten yitäytemineraalit)
Hienon kiviaineksen tai seosaineen raemuodon ja irtonaisuuden
Kloorin tunkeutumissyvyyden ja -tavan betoniin
Pinnoitteiden paksuuden, lukumäärän ja koostumuksen
Teräksen sinkkikerroksen syöpymisen Elektronimikroskopialla tutkittavia näytteitä ovat mm:
Betoni ja sen osa-aineet
Keraamit
Kivet
Mineraalivilla
Lasi
Pinnoitteet
Puu ym. orgaaniset aineet Näyte voi olla:
Jauhe
Rakeita
Murrettu pinta
Hiottu tai kiillotettu pinta (poikkileike)
Myös hieman kosteat näytteet käyvät Ota yhteyttä, niin räätälöimme teille soveltuvan
elektronimikroskopia- tai kuva-analyysitutkimuksen.
Yhteyshenkilö: Paula Raivio, puh. 09-2525 2441,
gsm 050 387 2441 | 
Kuva1. Puhdas lasivilla 
Kuva 2. EDS-spektri valkobetonin huokosessa esiintyvästä ettringiitti- kiteytymästä, analysoitu suurennuk-
sella 25 000x. Pääalkuaineet: kalsium Ca, rikki S, alumiini Al ja happi O. 
Kuva 3. Lattiamassan pinnalle kiteytynyttä kipsiä, joka on kauniisti kaksostunut.
Kuva 4. Kalsiumin alkuainekartta, näytteenä poikkileike betonista.
|
