Elektronimikroskopia

Tarjoamme asiakkaillemme elektronimikroskoopilla tehtäviä analyysejä eri materiaaleista. Menetelmä antaa materiaaleista nopeasti tietoa mm. koostumuksesta ja vaurioiden aiheuttajista.

Elektronimikroskooppikuvia voidaan ottaa jopa 1/1000 mm:n kokoisista yksityiskohdista. Mikroskooppiin liitetyllä EDS-laitteella pystytään analysoimaan näytteen alkuainekoostumusta ja alkuaineiden paljoussuhteita puolikvantitatiivisesti.

Elektronimikroskopialla voidaan tutkia hyvin erilaisia näytteitä. Näytteeksi soveltuvat mm. jauheet, rakeet, murrettu pinta tai kiillotettu pinta (ns. pintahie).

Elektronimikroskooppitutkimus paljastaa mm.:

  • Rakeiden ja kiteytymien koostumuksen (saostumat, huokosten täytemineraalit)
  • Hienon kiviaineksen tai seosaineen raemuodon
  • Kloorin tunkeutumisen betoniin
  • Erilaisten materiaalikerrosten paksuuden ja koostumuksen sekä säröilyn ja tartuntapintojen tiiveyden